В России создали нейросеть для контроля качества электроники. Она точнее зарубежных аналогов

- КиТ :: Будь в СЕТИ!

Представители Томского государственного университета сообщили о разработке и начале использования ПО на основе нейросети, которое позволяет диагностировать качество электроники на производстве быстрее и точнее, чем иностранные аналоги. Лучше зарубежных аналогов В Томском государственном университете (ТГУ) разработали математическую модель и ПО для оценки качества радиоэлектронной аппаратуры (РЭА) по снимкам цифрового рентгеновского 3D-микротомографа, сообщили представители вуза на своем сайте.

На этапе тестирования было установлено, что продукт российских ученых превосходит по точности, помехоустойчивости и быстродействию аналогичные технологии США, Китая, Тайваня и других стран, говорится в сообщении.

«Современная радиоэлектронная аппаратура содержит огромное количество радиокомпонентов (деталей), например, это печатные платы, разъемы, микросхемы, резисторы, которые могут иметь внешние и внутренние дефекты. Для их диагностики была обучена нейросеть», - сказал руководитель проекта, заведующий международной лабораторией «Системы технического зрения» научного управления ТГУ

Разработку поддержал Российский научный фонд (РНФ). Она уже используется в промышленности.

ПО можно легко адаптировать в систему управления качеством выпускаемой продукции на предприятиях ВПК и гражданской промышленности. На данный момент проводится организационная работа по внедрению разработанного в ТГУ подхода, например, в «Информационные спутниковые системы (ИСС)» имени академика М.Ф. Решетнева.

Обучение нейросети

Для обучения ИИ ученые использовали 1,5 тыс. эталонных и 10 тыс. дефектных изображений материалов и элементов РЭА, а также цифровые двойники объектов диагностики - печатных плат, транзисторов, конденсаторов, катушек индуктивности и прочее.

«Теперь наша нейросеть способна распознавать изображения различной размерности и цветности. Комплексный алгоритм, используемый в ней, воплотил свойства так называемого искусственного интеллекта первого рода, и способен решать самые сложные задачи», - пояснил Сырямкин.

Другие подобные разработки

Центральное конструкторское бюро (ЦКБ) «Дейтон», входящее в группу компаний «Элемент», разрабатывает систему автоматизированного оптического выявления дефектов изделий микроэлектроники. Об этом в конце октября 2024 г. писал CNews. Проект планируется к завершению в 2026 г.

«Радар ммс» занимается созданием софта на основе искусственных нейронных сетей для визуального контроля дефектов радиоэлектронных изделий. Предсерийные образцы планируют разработать до конца 2026 г., а с 2027 г. начать их массовое внедрение.

Автоматизация контроля особенно актуальна в условиях увеличивающегося объема производства электроники в России.

📧ПодпискаБудь в СЕТИ! Новости социальных сетей - всегда актуальное
 
Группы: ВК | OK | Tg